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深入理解晶圓生產中的SPC系統
  • 更新日期: 2024-10-15
  • 瀏覽次數: 1044
SPC (Statistical Process Control) 是晶圓生產工藝中非常重要的工具,用于監控、控制和改進制造過程中各個環節的穩定性。 1. SPC 系統的概述 SPC 是一種通過統計方法監控和控制制造過程的方法。其核心是通過實時數據的采集和分析來檢測生產過程中是否有異常情況發生,從而幫助工程師做出及時的調整和決策。SPC的目標是在生產過程中減少變異,確保產品質量穩定并符合規格。 SPC在蝕刻工藝中用于: 監控關鍵設備參數(如蝕刻速率、RF功率、腔體壓力、溫度等)
晶圓材料的生產工藝比較
  • 更新日期: 2024-10-14
  • 瀏覽次數: 978
硅片是現代電子產業的核心材料,廣泛應用于集成電路、太陽能電池、MEMS等領域。硅片(wafer)的生產工藝對其質量、性能和后續的應用至關重要。硅基集成電路工藝中,硅片的純度、摻雜濃度、晶體結構等參數會直接影響到器件的性能。在硅片生產中,最常用的兩種工藝是直拉法(Czochralski,簡稱CZ法)和區熔法(Float-……
通俗理解晶圓制造中的離子注入機臺
  • 更新日期: 2024-10-14
  • 瀏覽次數: 851
離子注入過程就像是一個高速公路上的投射系統,從離子源開始“起步”,通過加速和質量分離進行挑選,經過加速通道達到高速,然后通過鏡頭和偏轉裝置精準瞄準,最終將晶圓作為終點,精準完成摻雜。離子注入機(Ion Implanter)的組成如下: 1. 離子源(Ion Source) 離子源是離……
晶圓(硅片)為什么越來越大?
  • 更新日期: 2024-10-11
  • 瀏覽次數: 857
在硅基集成電路生產過程中,硅片(wafer)是關鍵材料之一。硅片的直徑和大小在整個生產工藝中起著至關重要的作用。硅片的尺寸不僅決定了可以生產的芯片數量,也對成本、產能和質量有直接影響。 一、硅片尺寸的歷史發展 集成電路生產的早期,使用的硅片直徑較小。1960年代中期,硅片的直徑通常是25毫米(1英寸……
晶圓工藝中的擴散過程詳解
  • 更新日期: 2024-10-11
  • 瀏覽次數: 889
擴散(Diffusion)是晶圓制造過程中至關重要的工藝步驟之一,尤其是在半導體制造中,用于摻雜硅基材料。這一過程是通過擴散將特定的摻雜物(如磷、硼、砷等)引入硅晶圓,以調整其導電性。 1. 擴散的基本原理 擴散,是指分子從高濃度區域向低濃度區域移動的過程。在晶圓制造中,擴散的對象是摻雜物(例如砷、磷或硼等……
如何把單晶硅錠切成硅片?
  • 更新日期: 2024-10-08
  • 瀏覽次數: 802
1. 硅片制造 高質量硅片的生產從單晶硅錠開始,經過多道工藝步驟,包括切片、表面處理和精加工。其中,線鋸切割是將大尺寸的圓柱形硅錠切割成薄片(即硅片)的關鍵步驟。 線鋸切割是確保硅片具有所需厚度和平整度的關鍵步驟,同時還能盡量減少材料損耗和缺陷。這一過程需要在切割速度、精度和表面質量之間找到平衡。 2……
為什么器件失效分析需要AFM機臺?
  • 更新日期: 2024-10-08
  • 瀏覽次數: 789
1. 概述 失效分析是確保集成電路和微電子器件可靠性、優化制造工藝的重要環節。隨著技術的進步,特別是進入5nm、7nm等先進工藝節點后,器件失效模式變得更為復雜,要求我們使用各種高精度的分析工具進行失效定位和機理分析。原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,簡稱AFM)就是其中一種重要的分析……
晶圓清洗的原理、流程、方法、設備
  • 更新日期: 2024-09-30
  • 瀏覽次數: 1616
晶圓清洗(Wet Clean)是半導體制造工藝中至關重要的步驟之一,其目的是去除晶圓表面的各種污染物,確保后續工藝步驟能夠在潔凈的表面上進行。 圖:批量的晶圓清洗 隨著半導體器件尺寸的不斷縮小和精度要求的不斷提高,晶圓清洗工藝的技術要求也日益嚴苛。晶圓表面任何微小的顆粒、有機物、金屬離子或氧化物殘留……
聊聊芯片說明書datasheet——以國產三相無刷電機驅動芯片為例
  • 更新日期: 2024-09-29
  • 瀏覽次數: 722
datasheet是芯片的使用說明書,里面有芯片的產品簡述、功能描述、特點、應用、封裝、管腳圖、內部框圖、極限參數、電氣參數等信息。今天,我們就來聊聊一款功能強大、特點豐富的三相無刷電機驅動芯片。我們會以一個輕松有趣的方式,分步驟地剖析其datasheet,讓大家對這款芯片有一個全面而深入的了解。
晶圓制造中的真空計概念、分類、應用
  • 更新日期: 2024-09-26
  • 瀏覽次數: 1200
真空計是用于探測真空系統中氣體壓力的儀器,它廣泛應用于半導體制造、光伏、科研實驗等領域。在這些應用中,不同種類的真空計用于測量不同的真空水平,以確保系統內的氣體壓力保持在指定的范圍內。理解真空計的工作原理和選擇適合的真空計對精確控制工藝至關重要,特別是在半導體制造中,許多關鍵工藝需要在特定的真空條件下進行,如蝕刻、沉積……
聊聊芯片設計中EDA工具的作用、組成及主要廠商
  • 更新日期: 2024-09-24
  • 瀏覽次數: 1012
電子設計自動化(EDA,Electronic Design Automation)是指一系列用于設計、分析和優化電子系統和集成電路(IC)的軟件工具。這些工具幫助工程師們完成芯片設計中的復雜任務,包括設計數字電路、模擬電路、驗證電路功能、優化性能等。通過使用EDA工具,工程師們可以在設計芯片時提高效率、減少錯誤,并且更……
晶面和晶向的關系
  • 更新日期: 2024-09-21
  • 瀏覽次數: 1281
晶面和晶向是晶體學中兩個核心的概念,它們與硅基集成電路工藝中的晶體結構有密切的關系。 1. 晶向的定義與性質 晶向代表晶體中一個特定方向,通常用晶向指數來表示。晶向通過連接晶體結構中任意兩個晶格點來定義,并且有以下幾個特性:每個晶向上都包含無窮多個格點;同一個晶向可以有多個平行的晶向組成一個晶向簇;晶向簇覆……

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