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發布時間:2022-03-17作者來源:薩科微瀏覽:2065
開篇前的閑聊
第三代半功率器件的重要性是提升功率,增強效率,減小體積不可繞過的領域。國家逐漸對半導體領域的重視,以及資本市場也開始紛紛投來關注,特別是在貿易戰忽明忽暗的局勢中,大家更是意識到自主化生產功率器件的重要性。如同游戲中的所需的必要裝備,為了合成神器,功率器件這一份元素是無論如何也繞不開的話題。如今三代半功率器件板塊的國產隊伍也紛紛異軍突起,異常熱鬧,其中派恩杰公司已經生產出性能優秀的碳化硅功率器件。
功率器件的損耗值
派恩杰參數領先
在老一代電力電子應用中,由于開關頻率偏低,導通損耗占主要地位,一位本行業的開山鼻祖,美國科學院院士 Jayant B. Baliga教授 (下文簡稱巴神) 早在1989年就提出了一個評價功率器件導通損耗的品質因數(參見[i]),ε其中是半導體材料電介常數,μ是電子遷移率 ,EC是 擊穿電場。根據巴神的公式,如果我們把硅材料的BFM因數作為1個單位,那么SiC材料的BFM因數是231個單位。這有什么意義呢?這說明,制作同樣高電壓的多子功率器件(MOSFET,肖特基二極管等), SiC材料的導通電阻小230倍!這意味著同樣電流下的導通損耗,SiC器件也比硅器件也小230倍!GaN相對硅的歸一化BFM是2097,Ga2O3是6170!用通俗話來總結就是,巴神早在1980年代就預言, 未來的功率半導體一定是寬禁帶半導體的天下!
圖片i
Jayant B. Baliga
(參見[ii]),其中Rds,on是器件的導通電阻,與導通損耗成正比,Qgd是器件柵漏米勒電容所存儲的電荷,與開關損耗成正比。同時,因為Rds,on跟器件面積成反比,Qgd跟器件面積成正比,他們的乘積剛好抵消器件面積(或者說成本)的影響,展示出這個器件在高頻工作下總體損耗水平。也用通俗的話來總結就是,HDFM品質因數越小,象征著器件的總體 損耗就越小,效率就越高 !
Alex Q. Huang
廠家 |
英飛凌 |
意法 |
科瑞 |
羅姆 |
派恩杰 |
某國產品牌 |
產地 |
歐洲 |
歐洲 |
美國 |
日本 |
中國 |
中國 |
技術平臺 |
[敏感詞]代溝槽 |
第二代平面 |
第三代平面 |
第三代溝槽 |
第三代平面 |
第?代平面 |
Rds,on (m?) |
90 |
60 |
75 |
80 |
80 |
80 |
Qgd (nC) |
5 |
35 |
20 |
25 |
9.3 |
54 |
|
21.2 |
45.8 |
38.7 |
44.7 |
27.3 |
65.7 |
歸一化HDFM |
1 |
2.16 |
1.83 |
2.11 |
1.29 |
3.10 |
*以上數據來自互聯網可公開下載的datasheet。 |
結語
在交通工具電氣化,新大基建等項目的推動下,碳化硅器件將成為各大電源廠的戰略布局重點。特斯拉全面與意法半導體合作,大眾汽車擁抱科瑞……能搶占SiC功率器件的[敏感詞]技術和產能的電源廠將得到不可比擬的戰略優勢。
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